MINITEST 3100 EPK統計型高精度涂鍍層測厚儀

MINITEST 3100 EPK統計型涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

• 鋼鐵基體上的非磁性覆層

• 有色金屬上的絕緣覆層

• 絕緣基體上的有色金屬覆層

MINITEST 3100 EPK統計型涂鍍層測厚儀特點：

所有型號均可配所有探頭；

可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；

可使用一片或二片標準箔校準

 MINITEST 3100 EPK統計型涂鍍層測厚儀功能

MINITEST3100存儲的數據量

應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)                   10   

每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，并可設寬容度極限值)     10可用各自的日期和時間標識特性的組數                     500 

數據總量                     10000    

MINITEST3100統計計算功能

讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar                            √    

讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk                √   

組統計值六種x,s,n,max,min,kvar                                √    

組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk                    √   

分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值                         √   

顯示并打印測量值、打印的日期和時間                          √   

其他功能

透過涂層進行校準(CTC)                       √   

在粗糙表面上作平均零校準                         √   

利用計算機進行基礎校準                      √   

補償一個常數(Offset)                         √   

外設的讀值傳輸存儲功能                      √   

保護并鎖定校準設置                          √   

更換電池是存儲數值                          √   

設置極限值                                     √    

公英制轉換                                     √    

連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值                  √   

連續測量模式中測量穩定后顯示讀數                     √   

浮點和定點方式數據傳送                       √ 

組內單值延遲顯示                                 √   

連續測量模式中顯示zui小值                          √ 

MINITEST 3100 EPK統計型涂鍍層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示)

在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

注：       F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。

N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。

CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀探頭圖示

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0～1600μm,φ30mm

兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度

F05

0～500μm,φ3mm

磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等

量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭

量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3

0～3000μm,φ5mm

磁性測頭

可用于較厚的覆層

F1.6/90

0～1600μm,φ5mm

90度磁性測頭

尤其適合于在管內壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10

0～10mm,φ20mm

適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F20

0～20mm,φ40mm

適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F50

0～50mm,φ300mm

適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02

0～200μm,φ2mm

非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr

0～80μm,φ2mm

適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6

0～1600μm,φ2mm

非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層

尤其適合在管內壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10

0～10mm,φ50mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N20

0～20mm,φ70mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N100

0～100mm,200mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

CN02

10～200μm,φ7mm

用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板